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能量色散型x射线荧光分析装置

 

先进的分析性能

采用高性能的sdd检测器,确保硬件更佳化,具有业内闻名的高灵敏度·高速分析和高分辨率。可以检测出6c~的机型正式上线(edx-8100)。

高灵敏度 –提高检测下限1.5~5倍-

高性能的sdd检测器与更佳化的光学系统和一次滤光片的组合,实现业内闻名的高灵敏度。
从轻元素到重元素,全范围轻松应对。与采用传统si(li)半导体检测器的分析装置相比,灵敏度也更胜一筹。

高速 –分析速度最大可提高10倍-

sdd检测器在单位时间内x射线荧光的计数率高,因此能够在更短的检测时间内进行高精度分析。特别是对金属材料的分析,这个特点可以得到更大限度的发挥。

测定时间与标准偏差(定量值偏差)的关系

实际样品的比较

分别用以往型号和edx-8100对无铅焊锡中所含的铅(pb)进行分析,比较重现性。

 

满足分析精度所需的检测时间

x射线荧光分析可以通过延长测定时间增加x射线荧光的计数从而提高精度(重现性)。
搭载高计数率sdd检测器的edx-8100与以往型号相比,能够在更短的时间内保证分析精度。

高分辨率

能量分辨率的比较(样品:pps树脂)

与配置以往si(li)半导体检测器的型号相比,能量分辨率更胜一筹。
不同元素峰值重叠的影响减小,提升可靠性。

无需液氮

sdd检测器为电子制冷方式,无需液氮冷却。不仅可以从繁琐的液氮补充作业中解放出来,更可以降低仪器的维护成本。

检测元素范围

· 用edx-8100进行15p以下的轻元素分析时,需要真空检测单元或者氦气置换检测单元(均为选购件)。

用edx-8100检测氟元素的分析结果

edx-8100进行超轻元素分析

edx-8100搭载的sdd检测器窗口采用极薄的薄膜特殊材料,能够检测碳(c)、氧(o)、氟(f)超轻元素。

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