观察集成电路的缺陷 | 岛津分析检测-爱游戏app手机版官网

非破坏x射线检查装置

x射线非破坏检查装置可提供在非破坏情况下物体内部的高放大倍数x射线图片。这些装置可用于内部失效分析、可靠性评价和smt（surface mounting technologies）分析。

岛津公司提供技术领先的高放大倍数微焦点装置，焦点尺寸从0.4µm- 1µm。